Skaningowa mikroskopia elektronowa (SEM, ang. scanning electron microscopy) - obrazowanie struktur i morfologii analizowanych materiałów za pomocą zogniskowanej wiązki elektronów.
Główne zalety mikroskopii skaningowej SEM:
- precyzyjna obserwacja topografii powierzchni przy powiększeniach od kilkudziesięciu razy do nawet kilku milionów,
- duża głębia ostrości,
- analiza morfologiczna – ocena kształtu, wielkości i dystrybucji elementów tworzących materiał: ziarna, wtrącenia, fazy (obszary o podobnym składzie chemicznym),
- analiza składu chemicznego – rozróżnianie pierwiastków i faz, z których składa się badany materiał,
- analiza jakościowa oraz ilościowa struktur krystalicznych materiałów: kształt i wielkość komórki pierwotnej, wyznaczanie granic ziaren.
Główny obszar działalności mikroskopii elektronowej w UDT:
- Ocena stopnia degradacji materiałów po eksploatacji (w tym repliki metalograficzne) wg wytycznych UDT 1/2015;
- Ekspertyzy materiałowe.
Degradacja mikrostruktury materiału dla energetyki
po długotrwałej eksploatacji w warunkach pełzania
Badania wykonuje:
